產品名稱:Flex One 顯微光致發光光譜儀

產品型號: Flex One

產品品牌: Zolix

  
Flex One 顯微光致發光光譜儀
欲了解更多信息請撥打:010-56370168-601

產品簡介:

    光致發光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光,在半導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光(波長如325nm、532nm、785nm 等)激發材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產生熒光,通過對其熒光光譜(即PL 譜)的測量,分析該材料的光學特性,如禁帶寬度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境原子排列的信息,是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法,因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。
    傳統的顯微光致發光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結合,但是傳統的顯微鏡在材料的PL 譜測量中,存在很大的局限性,比如無法靈活的選擇實驗所需的激光器(特別對于UV 波段的激光器,沒有足夠適用的配件),無法方便的與超低溫制冷機配合使用,采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題,都是采用標準顯微鏡難以回避的問題。

    北京卓立漢光儀器有限公司結合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統的設計經驗和普遍用戶的實際需求,推出了“Flex One( 微光)”系列顯微光致發光光譜儀,有效的解決了上述問題,是目前市場上具性價比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

( 產品圖片僅供參考,以實際系統配置為準)
 性能特點:
● 一體化的光學調校
——整機設計,結構穩固,光路穩定,確保高效性和易用性
● 簡單易用的雙樣品光路設計
——可隨意在水平和垂直光路上進行切
換,適用于各種常見的樣品夾具
● 超寬光譜范圍**
——200nm-2500nm
● 視頻監視光路 
——通過監視器,查找微米級樣品,可供精確調整,定位測試樣品點
● 多種激發波長可選**
——266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等

● 自動mapping功能可選*
——50mm×50mm標準測量區間,可定制特殊規格,步進精度1μm
特殊規格
● 電致發光(EL)功能可選*
——擴展選項
● 顯微拉曼光譜測量功能可選*
——擴展選項
● 超低溫測量附件可選*
——可配置多種低溫樣品臺
*選配項,請詳細咨詢; **需根據實際需要進行配置確定。

系統組成
● 激發光源部分:紫外-近紅外波段各種波長激光器
● 顯微光路部分:優化設計的專用型顯微光路
● 光譜采集部分:影像校正光譜和高靈敏型科學級CCD或單點探測器和數據采集器
● 樣品臺支架部分:xyz三維可調樣品臺(手動或自動)、超低溫樣品臺

參數規格表:

主型號Flex One
光譜范圍300-2200nm
光譜分辨率0.1nm
激發光可選波長266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等
探測器類型單點
Si
單點
PMT
單點
InGaAs
制冷型
CCD
2000×256
制冷型
InGaAs陣列
512×1
制冷型
InGaAs陣列
512×1
有效范圍200-1100nm200-870nm800-2500nm300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm
空間分辨率<50μm
注*:以上為參考規格,詳細規格依據不同配置的選擇會有差異,詳情請咨詢!

自動Mapping功能附件
     Flex One顯微光致發光光譜儀可以選配自動Mapping功能附件,標準選項為50×50mm規格自動樣品臺,步距精度達1μm,可定制100×100mm、150×150mm等多種規格的樣品臺,用戶可根據樣品規格來設置掃描區域、掃描步長、掃描速度等,掃描速度*高可達到180點/秒,空間分辨率*高可達10μm以下,掃描結果以3D模式顯示。


在配置CCD時,Mapping掃描結果中:
(1)可以保存每個掃描點的光譜信息;
(2)用戶可以查看每個掃描點的光譜信息,進行光譜比較分析;
(3)用戶可以進行峰值波長、熒光亮度等參數的Mapping顯示,得到更多信息用于材料分析。

  • 超低溫樣品室附件
  Flex One顯微光致發光光譜儀可以選配超低溫樣品室,標準制冷溫度可達10-20K,*低可選1.7K,采用閉循環結構,使用過程中無需添加冷媒。

  • 應用舉例
InGaN/GaN多量子阱的PL譜和EL譜測試

 
● 樣品提供:KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于藍寶石襯底MOCVD 生長的 InGaNGaN 量子阱
● 測試條件:325nm激發,功率30mW
● 光譜范圍:340-700nm

1. 光致發光(PL)光譜測量
 
分別針對材料的正極( 紅色) 和負極( 綠色) 測試得到光致發光光譜曲線如下,GaN 的本征發光峰365nm 附近以及黃帶,InGaN 的發光峰475nm 附近。
2. 電致發光(EL)光譜測量
 
將材料的正負極接到直流電源的正負極,電壓加到2.5V 時可以有明顯的藍光發射,測量其電致發光光譜曲線如下(紅色),峰值在475nm 附近。

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